Samsung Display
Contactless Characterization of Deep Level Defect States in a-IGZO via Differential Reflectance Transient Spectroscopy
Quantitative defect analysis in channel region for In-based amorphous oxide thin film trnasistor by AC transconductance
ESOL
Evolution of defect states within bandgap of Indium-Tin-Zinc oxide thin film transistors using quantitative defect analysis method
Device characteristics of amorphous oxide semiconductor thin film transistor based on quantitative defect analysis
한양대학교 대학원 박사과정
Evaluation of the High Mobility and Stability of InGaZnO/InSnZnO Bilayer Thin-Film Transistors via Quantitative Defect Analysis
(주) EtaMax
수소 분위기 열처리를 통한 InZnSnO 산화물 박막 트랜지스터의 성능 향상 및 매커니즘 연구
LG Display
Study on the oxide based multi-level non-volatile memory device by embedding nanoparticles
Indium based oxide thin film transistors for glucose sensor
Bias instability mechanism and improvement of tungsten-indium-zinc oxide thin film transistor based on dyanmic analysis of electronic structure
(주) WONIK IPS
Vanadium의 도핑농도에 따른 indium zinc-oxide (InZnO) 투명 전극에 대한 전기적 특성 연구
중원소 니켈 이온 조사에 따른 ZnO와 TiO 산화물 반도체의 전자 구조에 관한 연구
LAT
전이금속 산화물을 이용한 도핑을 하지 않은 수소화 비정질 실리콘 박막 태양전지의 제작
Lectron DSP
수소 이온 조사와 후 열처리 공정에 따른 IGZO 산화물 박막 트랜지스터의 특성 연구
용액공정을 이용한 알루미늄 첨가량에 따른 산화아연주석(AlZnSnO) 박막트랜지스터의 특성 변화 연구
KB-element
수소 이온 조사에 따른 TiO, ZnO 산화물 반도체 박막의 특성 변화 연구