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번호	제목	글쓴이	날짜
21	소자 분석 방법 및 이를 위한 분석 장치 (DEVICE ANALYSIS METHOD AND ANALYSIS APPARATUS THEREFOR) 최고관리자 2024-11-18	최고관리자	2024-11-18
20	반도체 소자의 계면 결함 검출 장치 및 방법 (Apparatus and Method for Detecting Interface Defect in Semiconductor Device) 최고관리자 2024-11-18	최고관리자	2024-11-18
19	소자 어레이 분석 방법 및 이를 위한 분석 장치 (Analysis method of device array and analysis apparatus for method) 최고관리자 2024-11-18	최고관리자	2024-11-18
18	이차 전지의 성능 확인 방법 및 이를 구현하는 장치 (Method of confirming Performance of Secondary Battery and Apparatus of preforming the same) 최고관리자 2024-11-18	최고관리자	2024-11-18
17	결함 분석 장치 및 이를 이용한 결함 분석 방법 (DEFECT ANALYSIS DEVICE AND DEFECT ANALYSIS METHOD USING THE SAME) 최고관리자 2024-07-09	최고관리자	2024-07-09
16	반도체 소자의 분석 방법 및 이를 위한 분석 장치 (ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND ANALYSIS APPARATUS FOR THE METHOD) 최고관리자 2024-07-09	최고관리자	2024-07-09
15	고활성화된 아톰 소스를 이용한 박막 형성 방법 및 그 박막 (FILM FORMING METHOD USING A HIGHLY ACTIVATED ATOM SOURCE AND FILM THEREOF) 최고관리자 2024-07-09	최고관리자	2024-07-09
14	색유리 제조 방법 (The production method of color-glass) 최고관리자 2024-07-09	최고관리자	2024-07-09
13	박막의 물성을 변화시키는 방법 (method of changing property of thin film) 최고관리자 2022-05-09	최고관리자	2022-05-09
12	저전압 구동형 발광 트랜지스터 (Low voltage driving typed light emitting transistor) 최고관리자 2022-05-09	최고관리자	2022-05-09
11	마찰전기 발전기 및 그 제조방법 (TRIBOELECTRIC GENERATOR AND ITS MANUFACTURING METHOD) 최고관리자 2022-05-09	최고관리자	2022-05-09
10	UV와 열처리를 이용한 박막 및 소자의 전기적 특성 변화시키는 방법 (METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM TRANSISTOR) 최고관리자 2022-05-09	최고관리자	2022-05-09
9	산화물 박막 트랜지스터 제조방법 (Method of manufacturing oxide thin film transistor) 최고관리자 2022-05-09	최고관리자	2022-05-09
8	고 이동도 기판 상의 유전막 형성방법 (Method of forming Dielectric Layer on the High Mobility Substrate) 최고관리자 2022-05-09	최고관리자	2022-05-09
7	분광학적 타원해석법을 이용한 전자 소자의 특성 평가 방법 (Method for evaluating property of electronic device using spectroscopic ellipsometry) 최고관리자 2022-05-09	최고관리자	2022-05-09

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