Devices stability of Ga-doped InZnSnO thin film transistors using quantitative analysis as a function of oxygen-related defect states
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작성일 2024-03-28 10:15 조회 72회 댓글 0건
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Devices stability of Ga-doped InZnSnO thin film transistors using quantitative analysis as a function of oxygen-related defect states
최나영
ITC
대한민국 대전
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