Quantitative Analysis of Defect States in In-based Amorphous Oxide Semiconductors via Differential Reflectance Transient Spectroscopy
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작성일 2025-05-28 14:25 조회 56회 댓글 0건
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Quantitative Analysis of Defect States in In-based Amorphous Oxide Semiconductorsvia Differential Reflectance Transient Spectroscopy
고진영
EMRS Materials Research Society (EMRS)
프랑스 스트라스부르
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