Quantitative analysis of defect states in amorphous of Ga doped InSnZnO films using photo-induced current transient spectroscopy | ||
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Quantitative analysis of defect states in amorphous of Ga doped InSnZnO films using photo-induced current transient spectroscopy
홍현민
한국진공학회(KVS), 국내, 강원도 홍천 |
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