반도체 소자의 분석 방법 및 이를 위한 분석 장치 (ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND ANALYSIS APPARATUS FOR THE METHOD) | ||
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반도체 소자의 분석 방법 및 이를 위한 분석 장치 (ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND ANALYSIS APPARATUS FOR THE METHOD)
정권범, 정광식, 홍현민
국내출원 (10-2022-0043071) 국제출원 (PCT/KR2023/004467)
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